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8-12M电动大巴电驱动适用的DualXT富士 七代IGBT模块
发布时间:2020-10-20        浏览次数:68        返回列表
 8-12M电动大巴电驱动适用的DualXT富士 七代IGBT模块

8-10M 电动大巴电机驱动器适用 2MBI800NE120-50

FUJI富士IGBT威柏德电子2MBI800NE120-50 Westpac.PDF

10-12M 电动大巴电机驱动器适用 2MBI1000RNE120-50

富士RC-IGBT逆导型IGBT模块的技术特点。 RC-IGBT逆导型IGBT模块 大的提升了IGBT模块的功率密度,是电力电子小型化开发的理想功率器件。  RC-IGBT将传统与IGBT芯片反并联封装在 起的FRD(快恢复二 管)集成在同 芯片上,大大提高了功率密度,降低了芯片面积、制造成本和封装制程,同时提高了产品可靠性,将成为未来主流发展趋势。

FUJI富士IGBT威柏德电子2MBI1000RNE120-50 Westpac.PDF

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7 代的 IGBT 芯片结构继承了 6 代 V 系列技术开发的场截止(Field Stop)结构和沟槽门 结构。 7 代 X 系列与 6 代 V 系列相比,通过 用薄晶片减少漂移层的厚度。通过采用这样的薄漂移层,可以在 7 代 X 系列中更进 步降低 IGBT 芯 片的导通压降。 般来说,漂移层变薄时,可能会出现关断时的电压振荡及耐压降低,但通过进 步优 化场截止层,可以抑制电压振荡的同时确保足够的击穿电压以达成芯片的进 步减薄。另外,与 6 代 V 系列相比,通过使芯片表面的沟槽门 结构的细小化和 优化,可以抑制在导通时 P 通道抽出的空穴, 通过增加表面的载流子浓度来提高 IE 效果(Injection Enhanced),大幅度改善了导通压降和关断损耗之 间的平衡关系。

X 系列芯片的主要特征 

1. 更薄的漂移层 - 降低导通压降 - 降低开关损耗

 2. 细小化沟槽门 结构 - 降低导通压降 - 降低开关损耗 

3. 优化场截止层 - 抑制电压振荡 - 降低高温漏电流 

2.1 导通压降和关断损耗之间平衡关系的改善 图 1-3 显示了 7 代 X 系列和 6 代 V 系列 IGBT 芯片输出特性的比较。如图所示,在额定电流条件 下, 7 代 X 系列的导通压降(集电 -发射 电压)VCE(sat)降低了约 0.25V。通过降低导通压降,可以 减小电流流过 IGBT 时产生的导通损耗(电流×导通压降),从而可以进 步提高电力变换装置的效率。

图 1-4 显示了 7 代 X 系列和 6 代 V 系列的关断比较波形。通过应用更薄的漂移层及增强正效果, 显著地降低了拖尾电流,使得 X 系列的关断损耗降低了 10%。 图 1-5 显示了 IGBT 导通压降和关断损耗之间的平衡关系。与 V 系列相比,X 系列的导通压降降低了 0.25V。 通过上述改善,尽管 7 代的 IGBT 芯片尺寸有所减小,但却实现了更低的损耗。